| 王礼同,汤晓明,周丹.新生儿缺氧缺血性脑病CT随访再认识[J].放射学实践,2000,(02): |
| 新生儿缺氧缺血性脑病CT随访再认识 |
|
| |
| DOI： |
| 中文关键词: 缺氧缺血性脑病 新生儿 随访 体层摄影术 X线计算机 |
| 基金项目: |
|
| 摘要点击次数: 2733 |
| 全文下载次数: 4414 |
| 中文摘要: |
| 目的 :进一步探讨新生儿缺氧缺血性脑病 (HIE)的发展转归、CT分度与预后的关系 ,并评价CT在HIE随访中的应用价值。方法 :选择有围产期窒息史 ,头颅CT诊断为不同程度的HIE新生儿 62例。根据脑水肿范围、程度 ,将HIE分为轻、中、重 3度 ,分别于 3个月、6个月、1岁、2岁和 4岁内进行头颅CT复查。结果 :HIE所致脑低密度灶在生后3个月内吸收消失 ;3～ 6个月时可引起外部性脑积水 (EH) ,1岁以后 ,EH的表现消失 ;3个月及以后可引起脑室周围白质软化症 (PVL) ,其中轻、中、重度HIE的PVL发生率为 11.6%、64 .3 %和 80 % ;重度PVL的发生率为 2 0 %、3 3 .3 %和75 % ;重度HIE在 2个月内可引起脑软化和脑萎缩 ( 80 % )。结论 :HIE的CT分度与预后密切相关 ;轻度者 ,预后良好 ;中 重度者 ,预后较差。PVL、脑软化和脑萎缩成为HIE远期的严重后遗症 |
| |
|
查看全文
下载PDF阅读器 |
| 关闭 |
|
|
|
